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Vertical SCR structure for on-chip ESD protection in nanoscale CMOS technology

  • Chun Yu Lin
  • , Pin Hsin Chang
  • , Rong Kun Chang
  • , Ming Dou Ker
  • , Wen Tai Wang

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章

2   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Vertical SCR structure for on-chip ESD protection in nanoscale CMOS technology」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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Material Science