Using ensemble empirical mode decomposition to improve the static fringe analysis in optical testing

  • Yu Ta Chen*
  • , Mang Ou-Yang
  • , Shuen De Wu
  • , Shiou Gwo Lin
  • , Yi Ting Kuo
  • , Cheng Chung Lee
    • *此作品的通信作者

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章

指紋

深入研究「Using ensemble empirical mode decomposition to improve the static fringe analysis in optical testing」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

Physics

Engineering