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Total cross section measurements by X-ray detection of electron-capture residual activity

  • C. N. Chang*
  • , J. J. Kent
  • , J. F. Morgan
  • , S. L. Blatt
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

15   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Total cross section measurements by X-ray detection of electron-capture residual activity」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

INIS

Physics

Chemistry