Threading dislocation induced low frequency noise in strained-Si nMOSFETs

W. C. Hua*, M. H. Lee, P. S. Chen, M. J. Tsai, Chee W. Liu

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

32 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Threading dislocation induced low frequency noise in strained-Si nMOSFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。

Chemical Compounds

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