The influence of electromechanical stress on the stability of nanocrystalline silicon thin film transistors made on colorless polyimide foil

I. Chung Chiu, Jung Jie Huang, Yung Pei Chen, I. Chun Cheng*, Jian Z. Chen, Min Hung Lee

*此作品的通信作者

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章

1 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「The influence of electromechanical stress on the stability of nanocrystalline silicon thin film transistors made on colorless polyimide foil」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

Engineering

Material Science