The effect of lanthanum (La) incorporation in ultra-thin ZrO2 high-κ gate dielectrics

Chuan Hsi Liu*, Pi Chun Juan, Yi Hsien Chou, Hung Wen Hsu

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

7 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「The effect of lanthanum (La) incorporation in ultra-thin ZrO2 high-κ gate dielectrics」主題。共同形成了獨特的指紋。

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