跳至主導覽 跳至搜尋 跳過主要內容

Testing naturalness at 100 TeV

  • Chuan Ren Chen
  • , Jan Hajer
  • , Tao Liu*
  • , Ian Low
  • , Hao Zhang
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

5   !!Link opens in a new tab 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Testing naturalness at 100 TeV」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

INIS

Physics

Engineering

Chemistry