Temperature dependence of the excess noise of a GaN nanowire device

L. C. Li, S. Y. Huang, J. A. Wei, Y. W. Suen, M. W. Lee, W. H. Hsieh, T. W. Liu, C. C. Chen

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章

1 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Temperature dependence of the excess noise of a GaN nanowire device」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

Chemistry

Physics