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Temperature dependence of substrate currents of MOSFETs under different drain and gate biases
Chuan Hsi Liu
, Shuang Yuan Chen
*
, Chia Hao Tu
, Heng Sheng Huang
, Sam Chou
, Joe Ko
*
此作品的通信作者
機電工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
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期刊論文
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Temperature dependence of substrate currents of MOSFETs under different drain and gate biases」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering
Gate Bias
100%
Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
100%
Drain Voltage
100%
Drain Bias
100%
Temperature Dependence
100%
Gate Voltage
66%
Transition Point
66%
Mathematical Modeling
33%
Scattering Effect
33%
Carrier Effect
33%
Electric Field
33%
Mathematical Model
33%
Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor (Mosfets)
33%
INIS
temperature dependence
100%
substrates
100%
voltage
100%
mosfet
100%
variations
25%
sensitivity
25%
modeling
25%
accuracy
25%
oxides
25%
electrons
25%
metals
25%
scattering
25%
carriers
25%
mathematical models
25%
phonons
25%
semiconductor materials
25%
field effect transistors
25%
electric fields
25%
kinetic energy
25%