Superlattice HfO2-ZrO2based Ferro-Stack HfZrO2FeFETs: Homogeneous-Domain Merits Ultra-Low Error, Low Programming Voltage 4 V and Robust Endurance 109cycles for Multibit NVM
C. Y. Liao, Z. F. Lou, C. Y. Lin, A. Senapati, R. Karmakar, K. Y. Hsiang, Z. X. Li, W. C. Ray, J. Y. Lee, P. H. Chen, F. S. Chang, H. H. Tseng, C. C. Wang, J. H. Tsai, Y. T. Tang, S. T. Chang, C. W. Liu, S. Maikap*, M. H. Lee*
*此作品的通信作者
研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章
13
引文
斯高帕斯(Scopus)