Superlattice HfO2-ZrO2based Ferro-Stack HfZrO2FeFETs: Homogeneous-Domain Merits Ultra-Low Error, Low Programming Voltage 4 V and Robust Endurance 109cycles for Multibit NVM

  • C. Y. Liao
  • , Z. F. Lou
  • , C. Y. Lin
  • , A. Senapati
  • , R. Karmakar
  • , K. Y. Hsiang
  • , Z. X. Li
  • , W. C. Ray
  • , J. Y. Lee
  • , P. H. Chen
  • , F. S. Chang
  • , H. H. Tseng
  • , C. C. Wang
  • , J. H. Tsai
  • , Y. T. Tang
  • , S. T. Chang
  • , C. W. Liu
  • , S. Maikap*
  • , M. H. Lee*
    • *此作品的通信作者

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章

17 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Superlattice HfO2-ZrO2based Ferro-Stack HfZrO2FeFETs: Homogeneous-Domain Merits Ultra-Low Error, Low Programming Voltage 4 V and Robust Endurance 109cycles for Multibit NVM」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

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