Structural Evolution and Stability of RF Sputter Deposited Li xMn2-yO4 Thin Film Cathodes

K. F. Chiu*, H. H. Hsiao, G. S. Chen, H. L. Liu, J. L. Her, H. C. Lin

*此作品的通信作者

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30 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Structural Evolution and Stability of RF Sputter Deposited Li xMn2-yO4 Thin Film Cathodes」主題。共同形成了獨特的指紋。

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