Strained pMOSFETs with SiGe channel and embedded SiGe source/drain stressor under heating and hot-carrier stresses
- Mu Chun Wang
- , Min Ru Peng
- , Liang Ru Ji
- , Heng Sheng Huang
- , Shuang Yuan Chen
- , Shea Jue Wang*
- , Hong Wen Hsu
- , Wen Shiang Liao
- , Chuan Hsi Liu
*此作品的通信作者
研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）