Strained pMOSFETs with SiGe channel and embedded SiGe source/drain stressor under heating and hot-carrier stresses
Mu Chun Wang, Min Ru Peng, Liang Ru Ji, Heng Sheng Huang, Shuang Yuan Chen, Shea Jue Wang*, Hong Wen Hsu, Wen Shiang Liao, Chuan Hsi Liu
*此作品的通信作者
研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審
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引文
斯高帕斯(Scopus)