Strained CMOS technology with Ge

P. S. Chen*, M. H. Lee, S. W. Lee, C. W. Liu, M. J. Tsai

*此作品的通信作者

研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審

指紋

深入研究「Strained CMOS technology with Ge」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science