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Strain of the micro-sized cone-shape GeSi alloy film determined by raman scattering
C. T. Chia
*
, L. J. Chen, V. I. Mashanov, H. H. Cheng
*
此作品的通信作者
物理學系
研究成果
:
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會議論文篇章
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指紋
指紋
深入研究「Strain of the micro-sized cone-shape GeSi alloy film determined by raman scattering」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Material Science
Strain
100%
Film
100%
Si-Ge Alloys
100%
Surface
25%
Alloy
25%
Bending
25%
Buffer Layer
25%
Physics
Alloy
100%
Raman Spectra
100%
Substrates
66%
Sides
33%
Contours
33%
Engineering
Ge Concentration
66%
Sample Structure
33%
INIS
electric properties
25%