Sputtering process parameters to structural and electrical properties of indium zinc oxide thin films

J. H. Hsieh, Chuan Li*, S. J. Liu, W. S. Lin

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

5 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Sputtering process parameters to structural and electrical properties of indium zinc oxide thin films」主題。共同形成了獨特的指紋。

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