Size-dependent trapping effect in nano-dot non-volatile memory

C. Y. Tsai, C. H. Cheng, T. Y. Chang, K. Y. Chou, Albert Chin*, F. S. Yeh

*此作品的通信作者

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章

1 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Size-dependent trapping effect in nano-dot non-volatile memory」主題。共同形成了獨特的指紋。

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