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Short channel effect improved strained-Si:C-source/drain PMOSFETs

  • M. H. Lee*
  • , S. T. Chang
  • , S. Maikap
  • , K. W. Shen
  • , W. C. Wang
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

5   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Short channel effect improved strained-Si:C-source/drain PMOSFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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