Robust ESD protection design for 40-GB/s transceiver in 65-Nm CMOS process

Chun Yu Lin, Li Wei Chu, Ming Dou Ker

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

8 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Robust ESD protection design for 40-GB/s transceiver in 65-Nm CMOS process」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

Engineering

Physics