Residual strain analysis of InxGa1- xAs/GaAs heteroepitaxial layers

V. Krishnamoorthy*, Y. W. Lin, L. Calhoun, H. L. Liu, R. M. Park

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

42 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Residual strain analysis of InxGa1- xAs/GaAs heteroepitaxial layers」主題。共同形成了獨特的指紋。

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