Reliability improvement of rapid thermal oxide using gas switching

Min Hung Lee, Cheng Ya Yu, Fon Yuan, K. F. Chen, Chang Chi Lai, Chee Wee Liu*

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

2 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Reliability improvement of rapid thermal oxide using gas switching」主題。共同形成了獨特的指紋。

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