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Reliability improvement of rapid thermal oxide using gas switching

  • Min Hung Lee
  • , Cheng Ya Yu
  • , Fon Yuan
  • , K. F. Chen
  • , Chang Chi Lai
  • , Chee Wee Liu*
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

2   !!Link opens in a new tab 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Reliability improvement of rapid thermal oxide using gas switching」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

INIS

Engineering