Probing the electronic structures of III-V-nitride semiconductors by x-ray photoelectron spectroscopy

T. S. Lay*, W. T. Kuo, L. P. Chen, Y. H. Lai, W. H. Hung, J. S. Wang, J. Y. Chi, D. K. Shih, H. H. Lin

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

13 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文英語
頁(從 - 到)1491-1494
頁數4
期刊Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures
22
發行號3
DOIs
出版狀態已發佈 - 2004
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  • 凝聚態物理學
  • 電氣與電子工程

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