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Physical thickness 1.x nm ferroelectric HfZrOx negative capacitance FETs

  • M. H. Lee
  • , S. T. Fan
  • , C. H. Tang
  • , P. G. Chen
  • , Y. C. Chou
  • , H. H. Chen
  • , J. Y. Kuo
  • , M. J. Xie
  • , S. N. Liu
  • , M. H. Liao
  • , C. A. Jong
  • , K. S. Li
  • , M. C. Chen
  • , C. W. Liu

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章

102   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Physical thickness 1.x nm ferroelectric HfZrOx negative capacitance FETs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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