跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立臺灣師範大學 首頁
專家資料申請/更新
English
中文
首頁
個人檔案
研究單位
研究成果
研究計畫
新聞/媒體
資料集
學術活動
得獎記錄
學生論文
按專業知識、姓名或所屬機構搜尋
Photoreflectance lineshape analysis of the selectively-doped GaAs/Al
0.3
Ga
0.7
As microstructure
C. R. Lu
*
, C. L. Chang, C. H. Liou
*
此作品的通信作者
物理學系
研究成果
:
雜誌貢獻
›
期刊論文
›
同行評審
1
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Photoreflectance lineshape analysis of the selectively-doped GaAs/Al
0.3
Ga
0.7
As microstructure」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
INIS
microstructure
100%
spectra
100%
doped materials
100%
gallium arsenides
100%
layers
60%
electric fields
40%
surfaces
20%
depth
20%
interfaces
20%
dielectrics
20%
space charge
20%
photons
20%
bending
20%
Chemistry
Microstructure
100%
Spectra
100%
Lineshape
100%
Electric Field
40%
Surface
20%
Reaction Temperature
20%
Dielectric Function
20%
Space Charge
20%
Band Bending
20%
Physics
Spectra
100%
Gaps
40%
Electric Fields
40%
Model
20%
Temperature
20%
Dielectrics
20%
Region
20%
Magnitude
20%
Space Charge
20%
Photons
20%
Reflectance
20%