Overview on ESD protection designs of low-parasitic capacitance for RF ICs in CMOS technologies

Ming Dou Ker*, Chun Yu Lin, Yuan Wen Hsiao

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻回顧評介論文同行評審

49 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Overview on ESD protection designs of low-parasitic capacitance for RF ICs in CMOS technologies」主題。共同形成了獨特的指紋。

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