Optical characterization of Ge/Si superlattices with stacked nanoripples

J. R. Lee, S. C. Lin, C. R. Lu*, J. H. Lin, C. T. Chia, H. H. Chang

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

3 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Optical characterization of Ge/Si superlattices with stacked nanoripples」主題。共同形成了獨特的指紋。

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