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Optical and material properties of sandwiched Si/SiGe/Si heterostructures
Z. C. Feng
*
, J. W. Yu
, J. Zhao
, T. R. Yang
, R. P.G. Karunasiri
, W. Lu
, W. E. Collins
*
此作品的通信作者
物理學系
研究成果
:
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同行評審
3
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Optical and material properties of sandwiched Si/SiGe/Si heterostructures」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
INIS
layers
100%
germanium silicides
100%
x-ray diffraction
66%
rutherford backscattering spectrometry
66%
ions
33%
orientation
33%
surfaces
33%
growth
33%
photoluminescence
33%
oxidation
33%
low temperature
33%
thickness
33%
raman effect
33%
molecular beam epitaxy
33%
fourier transformation
33%
vibration modes
33%
fourier transform spectrometers
33%
mass spectroscopy
33%
ion channeling
33%
Material Science
X-Ray Diffraction
100%
Optical Property
100%
Heterojunction
100%
Materials Property
100%
Rutherford Backscattering Spectrometry
100%
Photoluminescence
50%
Molecular Beam Epitaxy
50%
Fourier Transform Infrared Spectroscopy
50%
Secondary Ion Mass Spectrometry
50%
Surface (Surface Science)
50%