Operando Raman and DFT Analysis of (De)lithiation in Fast-Charging, Shear-Phase H-Nb2O5

Tongtong Li, Shengchi Huang, Nicholas Kane, Jeng Han Wang*, Zheyu Luo, Weilin Zhang, Gyutae Nam, Bote Zhao, Yabing Qi*, Meilin Liu*

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

19 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Operando Raman and DFT Analysis of (De)lithiation in Fast-Charging, Shear-Phase H-Nb2O5」主題。共同形成了獨特的指紋。

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