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On the kinetics of growth of highly defective GaN epilayers and the origin of the deep trap responsible for yellow-band luminescence

  • H. Liu*
  • , J. G. Kim
  • , M. H. Ludwig
  • , R. M. Park
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

25   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「On the kinetics of growth of highly defective GaN epilayers and the origin of the deep trap responsible for yellow-band luminescence」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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Material Science