On-Chip HBM and HMM ESD Protection Design for RF Applications in 40-nm CMOS Process

Jie Ting Chen, Chun Yu Lin, Rong Kun Chang, Ming Dou Ker*

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

9 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「On-Chip HBM and HMM ESD Protection Design for RF Applications in 40-nm CMOS Process」主題。共同形成了獨特的指紋。

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