Novel positive-tone thick photoresist for high aspect ratio microsystem technology

  • G. W. Hsieh
  • , Y. S. Hsieh
  • , C. R. Yang
  • , Y. D. Lee*
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

5 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Novel positive-tone thick photoresist for high aspect ratio microsystem technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

Material Science