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Novel positive-tone thick photoresist for high aspect ratio microsystem technology

  • G. W. Hsieh
  • , Y. S. Hsieh
  • , C. R. Yang
  • , Y. D. Lee*
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

5   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Novel positive-tone thick photoresist for high aspect ratio microsystem technology」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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Material Science