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Noncontact electrical test of a ball grid array substrate that uses the electro-optic probing technique

  • Wen Kai Kuo*
  • , Deng Tzung Tang
  • , Chien Jang Wu
  • , Thomson Lai
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

2   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Noncontact electrical test of a ball grid array substrate that uses the electro-optic probing technique」主題。共同形成了獨特的指紋。
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