Noncontact electrical test of a ball grid array substrate that uses the electro-optic probing technique

Wen Kai Kuo*, Deng Tzung Tang, Chien Jang Wu, Thomson Lai

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

2 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Noncontact electrical test of a ball grid array substrate that uses the electro-optic probing technique」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

Physics

Biochemistry, Genetics and Molecular Biology

Engineering