New experimental findings on SILC and SBD of ultra-thin gate oxides

M. G. Chen*, Chuan H. Liu, Ming T. Lee, K. Y. Fu

*此作品的通信作者

研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審

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深入研究「New experimental findings on SILC and SBD of ultra-thin gate oxides」主題。共同形成了獨特的指紋。

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