Multitechnique characterization of sandwiched Si/SiGe/Si heterostructures

Z. C. Feng*, T. R. Yang, J. Zhao, R. P.G. Karunasiri, W. Lu, W. E. Collins

*此作品的通信作者

研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審

指紋

深入研究「Multitechnique characterization of sandwiched Si/SiGe/Si heterostructures」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science