Multitechnique characterization of sandwiched Si/SiGe/Si heterostructures

  • Z. C. Feng*
  • , T. R. Yang
  • , J. Zhao
  • , R. P.G. Karunasiri
  • , W. Lu
  • , W. E. Collins
    • *此作品的通信作者

研究成果: 會議貢獻類型 › 會議論文 › 同行評審

指紋

深入研究「Multitechnique characterization of sandwiched Si/SiGe/Si heterostructures」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Engineering

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