Low power resistive random access memory using interface-engineered dielectric stack of SiOx/a-Si/TiOy with 1D1R-like structure

Chun Hu Cheng*, K. I. Chou, Zhi Wei Zheng, Hsiao Hsuan Hsu

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

12 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Low power resistive random access memory using interface-engineered dielectric stack of SiOx/a-Si/TiOy with 1D1R-like structure」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

Material Science