Low-Leakage and Low-Trigger-Voltage SCR Device for ESD Protection in 28-nm High-k Metal Gate CMOS Process
Chun Yu Lin, Yi Han Wu, Ming Dou Ker
研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）