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Light emission and detection by metal oxide silicon tunneling diodes
C. W. Liu
*
,
M. H. Lee
, C. F. Lin, I. C. Lin, W. T. Liu, H. H. Lin
*
此作品的通信作者
研究成果
:
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會議論文
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同行評審
31
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Light emission and detection by metal oxide silicon tunneling diodes」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Material Science
Bending
33%
Detector
33%
Devices
33%
Diode
100%
Electroluminescence
33%
Light-Emitting Diode
33%
Metal Oxide
100%
Oxide
66%
Photosensor
66%
Silicon
100%
Surface
33%
Temperature
33%
Engineering
Band Bending
33%
Emitting Device
33%
Growth Temperature
33%
Inversion Layer
33%
Light Detector
33%
Light Emission
100%
Minority Carrier
33%
Physics
Dark Current
66%
Minority Carriers
33%
Silicon Oxide
100%
INIS
dark current
66%
electron-hole plasma
33%
silicon diodes
33%