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Kink effect for 28 nm n-channel field-effect transistors after decoupled plasma nitridation treatment with annealing temperatures

  • Shea Jue Wang
  • , Mu Chun Wang
  • , Win Der Lee*
  • , Wen Sheng Chen
  • , Heng Sheng Huang
  • , Shuang Yuan Chen
  • , L. S. Huang Ms
  • , Chuan Hsi Liu
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

1   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Kink effect for 28 nm n-channel field-effect transistors after decoupled plasma nitridation treatment with annealing temperatures」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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