Investigation on CDM ESD events at core circuits in a 65-nm CMOS process

Chun Yu Lin*, Tang Long Chang, Ming Dou Ker

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

2 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Investigation on CDM ESD events at core circuits in a 65-nm CMOS process」主題。共同形成了獨特的指紋。

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