Investigation of strain-induced phase transformation in ferroelectric transistor using metal-nitride gate electrode

Yu Chien Chiu, Chun Hu Cheng*, Chun Yen Chang, Ying Tsan Tang, Min Cheng Chen

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

35 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Investigation of strain-induced phase transformation in ferroelectric transistor using metal-nitride gate electrode」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

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