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Investigation and application of vertical NPN devices for RF ESD protection in BiCMOS technology

  • Guo Lun Huang
  • , Wei Hao Fu
  • , Chun Yu Lin*
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

1   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Investigation and application of vertical NPN devices for RF ESD protection in BiCMOS technology」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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