Infrared reflectance analysis of GaN epitaxial layers grown on sapphire and silicon substrates

Z. C. Feng*, T. R. Yang, Y. T. Hou

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

15 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Infrared reflectance analysis of GaN epitaxial layers grown on sapphire and silicon substrates」主題。共同形成了獨特的指紋。

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