Improving ESD robustness of stacked diodes with embedded SCR for RF applications in 65-nm CMOS

Chun Yu Lin, Mei Lian Fan, Ming Dou Ker, Li Wei Chu, Jen Chou Tseng, Ming Hsiang Song

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章

14 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Improving ESD robustness of stacked diodes with embedded SCR for RF applications in 65-nm CMOS」主題。共同形成了獨特的指紋。

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