Impact of shielding line on CDM ESD robustness of core circuits in a 65-nm CMOS process

Ming Dou Ker*, Chun Yu Lin, Chang Tang-Long Chang

*此作品的通信作者

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章

1 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Impact of shielding line on CDM ESD robustness of core circuits in a 65-nm CMOS process」主題。共同形成了獨特的指紋。

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