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Growth of strained Si on high-quality relaxed Si1-x Gex with an intermediate Si1-y Cy layer

  • S. W. Lee*
  • , Y. L. Chueh
  • , L. J. Chen
  • , L. J. Chou
  • , P. S. Chen
  • , M. H. Lee
  • , M. J. Tsai
  • , C. W. Liu
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

3   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Growth of strained Si on high-quality relaxed Si1-x Gex with an intermediate Si1-y Cy layer」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

INIS

Material Science