Growth of high-quality relaxed SiGe films with an intermediate Si layer for strained Si n-MOSFETs

  • P. S. Chen*
  • , S. W. Lee
  • , M. H. Lee
  • , C. W. Liu
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

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指紋

深入研究「Growth of high-quality relaxed SiGe films with an intermediate Si layer for strained Si n-MOSFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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