GMR effect of permalloy/Cu multilayers on Si(100) and Si(111)

C. H. Ho*, C. K. Lo, Y. D. Yao, S. F. Lee, I. Klik, M. T. Lin, Y. Liou, D. Y. Chiang, D. R. Huang

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 會議論文 › 同行評審

指紋

深入研究「GMR effect of permalloy/Cu multilayers on Si(100) and Si(111)」主題。共同形成了獨特的指紋。

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