Forward gated-diode measurement of filled traps in high-field stressed thin oxides
- Ming Jer Chen
- , Ting Kuo Kang
- , Huan Tsung Huang
- , Chuan Hsi Liu
- , Yih J. Chang
- , Kuan Yu Fu
研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
4
連結會在新分頁中打開
引文
斯高帕斯（Scopus）