Extremely Steep Switch of Negative-Capacitance Nanosheet GAA-FETs and FinFETs

M. H. Lee, K. T. Chen, C. Y. Liao, S. S. Gu, G. Y. Siang, Y. C. Chou, H. Y. Chen, J. Le, R. C. Hong, Z. Y. Wang, S. Y. Chen, P. G. Chen, M. Tang, Y. D. Lin, H. Y. Lee, K. S. Li, C. W. Liu

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章

24 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Extremely Steep Switch of Negative-Capacitance Nanosheet GAA-FETs and FinFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy

Chemical Compounds