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Experimental demonstration of ferroelectric gate-stack AlGaN/GaN-on-Si MOS-HEMTs with voltage amplification for power applications

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

21   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Experimental demonstration of ferroelectric gate-stack AlGaN/GaN-on-Si MOS-HEMTs with voltage amplification for power applications」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

INIS

Material Science

Engineering